高斯計(jì)測(cè)量薄片磁體的剩磁
日期:2019-10-22 17:02
高斯計(jì)測(cè)量薄片磁體的剩磁的原理是測(cè)量薄片中心點(diǎn)的表磁,如果薄片退磁后,就很難測(cè)試出來,因?yàn)楸∑浯藕蟮谋泶疟緛砭筒桓?,在這個(gè)時(shí)候,我們工程師建議采用磁通計(jì)測(cè)量磁通值,檢測(cè)薄片的剩磁比較好。
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